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掃描電鏡測試SEM，x射線能譜測試EDS
周主任：
廣州中科檢測技術服務有限公司通過了中國國家認證認可監督管理委員會和中國合格評定國家認可委員會的二合一（cma、cnas）實驗室認證認可，是的第三方檢測機構。為您出具認證報告！日立S-3400N掃描電鏡、德國布魯克Xflash Detector 5010能譜儀，固體樣品均可，樣品應經過真空干燥處理，不含水分或其它易揮發成分。樣品厚度不能高于10mm，樣品直徑200mm。測試條件：加速電壓0.3~30kv，放大倍率5~300000倍，分辨率SE 3nm@30kv、10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可以測量固體樣品、薄膜、微粒的表面結構，不導電的需噴金后測定。
掃描電鏡快速檢測，SEM現場檢測-國科控股資質檢測機構
掃描電鏡測試SEM可提供表面結構測試，進行樣品微觀分析，掃描式顯微鏡可放大到30萬倍以上，可測試項目廣泛。
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X射線能譜：入射電子和樣品進行非彈性碰撞可產生連續x光和特征x光，前者系入射電子減速所放出的連續光譜，形成背景決定zui少分析之量，后者系特定能階間之能量差，可藉以分析成分元素。
元素分析：
可以測試的金屬元素有： 鋰（li）、鈹（be）、 鈉（na）、鎂（mg）、鋁（al）、 鉀（k）、鈣（ca）、鈦（ti）、釩（v）、鉻（cr）、錳（mn）、鐵（fe）,鈷（co）、鎳（ni）、銅（cu）、鋅（zn）、鎵（ga）、...
特別推出紅外（F?IR）、DSC(差視熱量掃描儀)、TGA（熱失重分析）、TGA-FIR聯用、DMA動態力學分析儀、塑料導熱系數、塑料配方剖析未知物成分分析、激光粒度儀、TEM（透射電鏡）、SEM（掃描電鏡）的測試。
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